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供应光学薄膜测厚仪

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公司: 北京燕京电子有限公司 
规 格:
单 价: 1元/ 询价 
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供货总量: 1
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2010-10-06
相关信息
 
产品详细说明

ST4000/5000系列 硅晶片测量型载物台尺寸 150mm×150mm, 200mm×200mm, 300mm×300mm(移距)测量范围 100Å50μm(取决于薄膜类型)光斑尺寸 40μm /20μm/10μm/4μm(可选配20μm/10μm/5μm/2μm)测试速度 1/测量点(典型值)选配件 可编程X-Y轴自动移动载物台配备发动机的Z/CCD摄像机自动聚焦参考标准样本防震平台应用领域 ST2000的所有应用领域及更精确测量适用于硅晶片及OELD测量


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