供应MProbe薄膜测量系统(图)

产品介绍：

大多数半透明的或者光吸收的薄膜可以被快速的可靠的测量：氧化物、氮化物、光刻胶、聚合物、半导体材料（Si、aSi、PolySi）、复合硅材料（AlGaAs、InGaAs、CdTe、CIGS）、硬膜（Paralene、PMMA、Polyamides）、金属薄膜等等。

技术指标：

■ 厚度范围：5nm-800μm

■ 波长范围：200nm-5000nm

应用范围：

■ 太阳能电池薄膜应用：aSi、TCO、GIGS、CdS、CdTe-全太阳能电池堆叠测量

■ LCD、FPD应用：ITO、Cell Gaps、Polyamides

■ 光盘：介质滤光片、硬涂层、反射涂层

■ 半导体：Oxides、Nitrides、OLED stack

■ 200nm氧化层厚度的100个测量值

■ 实时测量及分析：多层的，不同薄厚的，独立和非均匀涂层

■ 可扩展材料库（超过500中材料）：Cauchy、Tauc-Lorentz、CODy-Lorentz、EMA等等

产品特点：

■ 使用灵活：桌面或固定式，在线研发等

■ 测量：厚度、光学常数、表面粗糙度

■ 生产准备：后台刻度校准、操作员/工程师界面、■ 灵活的系统配置。连接层和材料、多种样品检测、动态测量和批量处理

■ CdS/GIGS堆叠测量结果匹配VS数据产生