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硅材料碳氧测试仪HS-OCT-2000

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公司: 北京合能阳光新能源技术有限公司 
品 牌: Henergysolar
型 号: HS-OCT-2000 
单 价: 42000元/套 询价 
最小起订量: 1 套   
供货总量: 5 套
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2013-02-22
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产品详细说明
是否提供加工定制:品牌:Henergysolar
型号:HS-OCT-2000类型:三元素分析仪器
测试范围:1.0X1016cm-测量时间:0.2~2.5 cm/s
测量精度:±0.01 cm-1电源电压:220/50(VHZ)
适用范围:硅材料氧碳检测

产品特点:

1)适合于硅材料的氧、碳含量的测定;

2)可实现硅料中氧碳含量自动、快速、准确的测量;

3)具备完整的谱图采集、光谱转换、光谱处理、光谱分析及输出功能,使得操作更简单、方便、灵活。

4)全密封防潮、防尘干涉仪的设计使仪器对环境的适应能力更强。

5)外置式红外光源部件的设计使得仪器具有更高的热学稳定性,无须动态调整就具有稳定的干涉度。

6)高强度红外光源采用球形反射装置,可获得均匀、稳定的红外辐射。

7)程控增益放大电路、高精度A/D转换电路的设计及嵌入式微机的应用,提高了仪器的精度及可靠性;

8)光谱仪与计算机间通过USB方式进行控制和数据通讯,完全实现即插即用。

9)通用微机系统,全中文应用软件界面友好、内容丰富。

10)专用样品固定架;

11)高稳定性和抗震性;

12)保质期:12个月。

技术参数:

1)检测下限:1.0X1016cm-3(常温);

2)检测硅料硅片厚度范围为:0.1~3.5mm;

3)波数范围:7800cm-1~400cm-1

4)分辨率:优于0.5 cm-1

5)波数精度:±0.01 cm-1

(1) CZ-Si(直拉硅)中氧含量精密度为±10%。

(2) FZ-Si(区熔硅)中氧含量精密度为±20%,检测下限为1×1016cm-3。符合“硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法”国家标准(GB/T 1557-89)的要求。

6)扫描速度:0.2~2.5 cm/s,微机控制,选择不同的扫描速度,档次连续可调。

7)信噪比:优于15,000:1(RMS值,在2100 cm-1处,4 cm-1分辨率,DTGS探测器,1分钟数据采集。)

8)分数器:KBr基片镀锗

9)探测器:标准配置DTGS,任选MCT

10)光源:高强度空气冷却红外光源

数据系统:

1)通用微机,连接喷墨或激光打印机,可输出高质量的光谱图。

2)软件:全新中文MainFTOS软件:Windows9X/2000/XP操作系统下的通用操作软件系统。包括谱库检索软件、定量分析软件、谱图输出软件及专用红外谱库。

仪器尺寸:

1)光学台:63*52*24cm

电源:

1)交流:220V/50HZ

2)功率:1000VA

主要客户:

锦州阳光能源、江苏天源、峨眉739、河北晶龙集团、无锡尚德、天津环欧等

详情欢迎来电咨询:

北京合能阳光新能源技术有限公司

北京市通州区工业开发区光华路16号

电话:010-60546837 -104传真:01060546837-608

联系人:肖经理18610357221 QQ:454972757

Email:xiaozongyong@henergysolar.com

公司网站:http://www.HenergySolar.com


公司联系方式
  • 北京合能阳光新能源技术有限公司 [加为商友]
  • 联系人肖宗镛(先生)  
  • 地区北京
  • 地址中国 北京市通州区 北京市通州区工业开发区光华路16号
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