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美国X-RAY荧光膜厚仪

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公司: 深圳市金东霖科技有限公司 
单 价: 面议 询价 
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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2013-10-24
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产品详细说明
美国博曼X-RAY荧光膜厚仪规格描述:
X射线激发系统:垂直上照式X射线光学系统。准直器程控交换系统:可同时装配4种规格的准直器。测厚范围可测定厚度范围:取决于您的具体应用,基本分析功能采用基本参数法校正。
样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
美国博曼X-RAY荧光膜厚仪可检测元素范围:AL13 – U92
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
贵金属检测,如Au karat评价                                        
材料和合金元素分析,材料鉴别和分类检测                                        
液体样品分析,如镀液中的金属元素含量
多达4个样品的光谱同时显示和比较。元素光谱定性分析,精度高、稳定性好。强大的数据统计、处理功能。测量范围宽,NIST认证的标准片,全球服务及支持。
美国博曼X-RAY荧光膜厚仪的特点有:
(1)无损分析:无需样品制备
(2)经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益
(3)操作简单,只需要简单的培训
(4)分析只需三步骤
(5)杰出的分析准确性和精确性
(6)在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
(7)使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。
如果您有什么问题或要求,请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。金东霖祝您工作愉快!

公司联系方式
  • 深圳市金东霖科技有限公司 [加为商友]
  • 联系人舒翠(女士)  
  • 地区广东-深圳市
  • 地址深圳市沙井北环大道新桥综合大楼502
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