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美国X-RAY膜厚测试仪

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公司: 深圳市金东霖科技有限公司 
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发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2013-10-24
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产品详细说明
美国原装博曼X-RAY膜厚测试仪是一款简洁、坚固和可靠的质量控制系统,用于简便、快速的镀层厚度测试和材料分析。 可应用于常规金属处理、电子元器件制造和金属测定(如珠宝鉴定)等行业,完成单层或多层厚度测量。
美国原装博曼X-RAY膜厚测试仪主要特点包括:
可完成至多4层镀层(另加底材)和15个元素的镀层厚度测试,自动修正X射线重叠谱线
卓越的多元素辨识,广泛覆盖元素表上从铝(原子序数13号)到铀(92号)各元素 测厚行业20年知识和经验的积淀.
美国原装博曼X-RAY膜厚测试仪可实现如下测试要求:
符合ISO3497标准测试方法:金属镀层——X射线光谱法测量镀层厚度
符合ASTM B568标准测试方法:X射线光谱仪测量镀层厚度,包括金属和部分非金属镀层
至多同时分析25种元素
经实践验证、坚固、耐用的设计,可在绝大多数严苛的工业条件下使用。
空间占用小 –节约宝贵的工作台空间,也可近产线放置。
计算机提供USB和以太网接口用于连接打印机、光驱和网络。
如果您有什么问题或要求,请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。深圳市金东霖祝您工作愉快!
公司联系方式
  • 深圳市金东霖科技有限公司 [加为商友]
  • 联系人舒翠(女士)  
  • 地区广东-深圳市
  • 地址深圳市沙井北环大道新桥综合大楼502
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