美国荧光电镀膜厚仪

美国博曼荧光电镀膜厚仪随着检测零件的微小化，对微区的高精度测量的需求日益增多。博曼荧光电镀膜厚仪实现微区下的高灵敏度，即使在微小准直器(0.1、0.2mm)下，也能够大幅度提高膜厚测量的精度。并且，配备有新开发的薄膜FP法软件，即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量，可对应更广泛的应用需求。
产品特点：
即放即测！
通过自动定位功能，放置样品后仅需几秒，便能自动对准观察样品焦点。
10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量！
以最佳的设计实现微小区域下的高灵敏度，即使在微小准直器（0.1、0.2mm）下，也能够大幅度地提高膜厚测量的精度。
无标样测量！
将薄膜FP软件进一步扩充，即使没有厚度标准物质也能进行高精度的测量。也可简单地测量多镀层膜和合金膜样品。
通过广域观察系统更方便选择测量位置！
通过广域观察系统，能够从画面上的样品整体图（最大250×200mm）中方便地指定测量位置
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