供应薄膜测厚仪

薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。薄膜测厚仪符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多项标准。
薄膜测厚仪（CHY-C2）具有以下特点：
接触式测量；
测头自动升降；
手动、自动双重测量模式；
显示最大值、最小值、平均值和统计偏差；
标准接触面积、测量压力（非标可选）；
标准量块标定；
薄膜测厚仪技术指标：
测量范围：0～2mm（常规）
                   0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：10次/min（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
           注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

Labthink兰光拥有先进的检测技术与专业实验室，致力于为全球范围医药、食品、日化、包装、印刷、胶粘剂、汽车、石化、环境、生物、新能源、建筑、航空及电子领域客户提供最优秀、最全面的品质控制解决方案。了解详情请致电：济南兰光0531-85068566或登录官网www.labthink.cn查询