点击图片查看原图武汉嘉仪通科技有限公司是主要从事高端新材料分析仪器研发、生产、销售为一体的高技术企业。公司长期专注于新材料分析和检测领域，有一整套成熟的分析、检测方案，坚持以技术创新为客户不断创造价值。
本公司研发的Namicro-III 型热电参数测试系统采用准动态法（具有专利技术）和四探针法分别测量样品的塞贝克系数和电阻率。
1、动态法测量塞贝克系数，避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差，测量更准确。
2、电阻率测量和塞贝克系数测量不共用电压探针，避免出现微型热电偶断裂失效的问题。
3、软件界面友好，操作方便，高度自动化。既可以全自动测量，也支持半自动和手动采集测量，全自动测试时，只需设置起始温度、终了温度以及测试步长三个值即可，温度曲线设置大为简化。
技术参数
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温度范围 |
RT~ 800 ℃ |
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温控方式 |
PID 程序控制 |
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真空度 |
1~50 Pa |
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测试气氛 |
真空 |
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测量范围 |
塞贝克系数： S ≥ 8 µV/K； 电阻率：0.1 µΩm ~ 100 kµΩ·m |
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分辨率 |
塞贝克系数：0.05µV/K； 电阻率： 0.05 µΩ·m |
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相对误差精度 |
塞贝克系数≤ 6%； 电阻率≤ 5% |
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样品尺寸 |
1) 块体样品： 长条形，长×宽：( 2~5)× (2~5)mm ； 高度：12~ 18mm |
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