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全新的热分析技术
采用全新的专利技术，通过分析样品在受热过程中的光学特性（反射光功率）变化与升温过程的关联曲线图，解析我们需要的材料热力学指标。
多种材料无损测量
突破原有技术局限，核心基于二维薄膜材料测量，对块体或粉粒类材料进行适当处理亦可有效测量。
兼具两种测试功能
采用合适的方法制备适用的样品，可实现相变测试、平均热膨胀系数测试及其关联参数的测试分析。
快速升温设计
可实现最快3000℃/min的升温速度，使设备具备恶劣环境模拟以及加速老化等实验的扩展能力。
产品详情
简约的光学系统
基于三维调整的光隔离器能够有效保护激光器
以及调整激光通路。
搭载聚焦及滤波的传感模块能够有效的提高信
号的检出率。
高性能的加热及控制系统
采用高性能长寿命红外加热管进行加热，核心加热区采用抛物反射面设计，
确保对样品进行有效全方位加热。
采用PID调节与模糊控制相结合的温控系统可实现系统的高速跟随控制。
可搭载各种配属组件进行关联操作。
默认配置为K型热电偶。
人性化的送样组件
以直线滚珠轴承作为组件支撑及运动导向关联件，确保送样的平稳可靠，
行程限垫可有效确保导轨的行程范围。
压迫式弹针接触端子可以确保温度传感器的有效接通，同时其弹力可以确
保设备处于锁紧状态时才可进行加热操作等事宜，避免误操作
组合隔温挡圈能够有效的形成前后隔离，确保核心加热区温场更均匀。
技术参数
验证性能力指标
|
序号 |
项目 |
技术要求 |
|
1 |
温度范围 / (℃) |
RT～1200 |
|
2 |
程序升温重复性 / (%) |
< 1 |
|
3 |
程序升温速率偏差 / (%) |
< 10 |
|
4 |
相变温度测量精密度 / (%) |
< 0.5 |
|
5 |
相变温度测量正确度 / (%) |
< 0.5 注：偏差量值<3℃ |
|
6 |
热膨胀系数测量精密度 / (%) |
< 4.0 |
|
7 |
热膨胀系数测量正确度 / (%) |
< 15 |
其他技术指标
|
序号 |
项目 |
技术指标 |
|
1 |
最大工作功率（kW） |
4.0 |
|
2 |
※最大升温速度（℃/min） |
3000（50℃～1200℃，真空） 2700（50℃～1200℃，N2） |
|
3 |
※温场一致性（℃） |
±2.0（1200℃，真空） ±4.5（1200℃，N2） |
|
4 |
相变薄膜材料检测厚度下限（nm） |
5.0 |
|
5 |
热膨胀分析绝对量值（nm） |
0.5 |
|
6 |
主机净重（kg） |
52 |
|
7 |
主机尺寸（mm） |
510×404×470 |
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