点击图片查看原图
蓝宝石膜厚测试仪
■利用反射干涉的原理进行无损测量
■可测量薄膜厚度及光学常数，测量精度达到埃级的分辩率
■操作简单，界面友好，是 目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备
■设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm 到1700nm可选
■并有手动及自动机型可选，应付不同 的研发或生产要求
√GaN厚度 √光阻胶厚度
√SiO2厚度 √ 穿透率
公司联系方式
- 北京羲和阳光科技发展有限公司 [加为商友]
- 联系人包经理(女士) 销售部总监
- 地区北京
- 地址北京市大兴区西红门路26号明珠商务7A-306
