X-高精度荧光镀层测厚仪/膜厚仪X-RAY

CMI做为世界级品牌在PCB及电镀行业已形成一个行业标准，90%以上的大型企业在使用CMI系X-RAY机做为测量镀层厚度的行业工具，而今最新上市一款X-starata960在测薄金方面达到同行业前所未有的高度 基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进全新的设计： · 新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的最强大的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间 · 更小的X射线光斑尺寸 - 新增15mil直径准直器，可测量电子器件上更小的部位。提供改进的CCD摄像头及缩放装置，同时提供更高精度的Y轴控制。 · 距离独立测量（DIM） - 更灵活地特殊形状样品，可在DIM范围内12.5-90mm（0.5-3.5inch）对样品表面进行测量，Z轴可控制范围为230mm（9inch）。可通过手动调整也可以通过自动镭射聚焦来实现对样品的精确对准。 · 自动镭射聚焦 - 自动寻找振决的聚焦距离，改善DIM的聚焦过程并提高系统测量再现性。也可选择标准的镭射聚焦模式。 · 全新的大型样品室 - 更大的开槽式样品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,开槽式设计可容纳超大尺寸的样品。可从各个方向简便的装载和观察样品。 · 3种样品台选项 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移动范围)/XY手动控制（250x250mm或10x10英寸）/固定样品台；标准配置Z轴程控控制(230mm或9inch移动范围)。 · 内置PC用户界面　 X-STRATA 960先进X射线荧光 镀层厚度测量分析仪器 新型X-STRATA 960即时分析仪代表了牛津仪器（OXFORD INSTRUMENTS）镀层厚度测量和材料成份分析技术的一次重大飞跃。软件和硬件领域的新进步提高了我们X线系列产品的性能。X-STRATA 960能够测量极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并测量氮化钛镀层。X-STRATA 960分析仪能够即时分析黄金和其它贵重金属。印刷电路板和电子元件制造商以及金属表面处理专业厂家也可以从我们测量镀层厚度和成份的先进技术中获益。像我们所有的仪器一样，这个系列的仪器也由牛津仪器集团提供技术支持。我们保证在售前和售后都提供卓越的服务。 测量和材料分析系统软件 所有Oxford X线荧光系统都配备有Oxford Smartlink FP系统操作软件包。这是一种基于windows的综合性基本参数软件程式。 规格简介 l 无标准效准：Oxford支持使用标准以解决顺应性和系统优化问题 l 包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体 l 5层/15种元素/普通元素效正 l 同时为多达15种元素进行成份分析 l 贵重金属分析和金纯度检查 l 材料与合金元素分析 l 材料鉴定与区别 l 吸收测量方式 l 液体分析：分析液体中的金属，如电镀液 l 系统自动调整和效正：效正X线导管、探测器和电子设备的变化 l 光谱计数速率峰值位移效正 l 重叠荧光峰值数字峰值反卷 l 定性光谱分析元素ID。同时轻松自如地查看和比较多达四个光谱 l Oxford统计数字和报告产生器LE（轻型） Oxford SmartLink 补充软件系列 l Oxford统计数字和报告产生器 l 配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器 l Oxford即时分析 l Oxford材料区别 l Oxford Percent P 有了Oxford SmartLink补充软件系列，您就能够将原始数据转变成强有力的资讯。所有的Oxford统计数字和报告产生器都让您根据自己的需要选择定制报告。统计数字软件提供：平均值，S.D.，最小值，最大值，范围，偏差百分比，控制上限，控制下限，Cpk，组织图，X-bar/R。所有的性质都可以用多媒体形式做图表演示。用户可以输入测量元件的数字图像或CAD文件，并把它们直接放在品质报告上。 l 配备数据库的Oxford统计数字和报告产生器：与上面相同，但包含一个完整的数据库。数据库总共包含十个可追踪域，其中八个为用户定义域。元件号和日期/时间域为标准域。通过用户选择索引对数据进行存档、索引和分类处理。 l Oxford即时分析、材料区别和Percent P等选项，能够为您的具体应用优化X-STRATA 960仪器的功能。这些选项可能包含附加软件、定制功能和附加硬件，以提高系统性能。 激励 l 下视X线。X线射束90度采样 l 100W风冷微聚焦X导管，提供钨、钼和其它阳极。电力：最大瓦特，4-50kv可编程，0-1.5mA l 准直管：多个（最多4个），可编程，圆形，矩形（我们将帮助您选择适合于您应用的准直管） l 主要过滤器：提供各种厚度及材料 X线探测器和信号处理 l X线探测器：密封氙气正比计数器；提供其它填充气体 l 探测器过滤器：最多3个，5个位置，可编程-马达驱动；提供钒、铁、锡、和其他元素 l 高速探测器信号处理电子设备，具有峰值位移校正功能 样品处理 l 样品室：开槽 l 在X、Y、Z轴上可编程马达驱动控制 l 高清晰度、实时、彩色样品示图，15〞（38.10cm）（标准） l 彩色样品图像捕获和打印 l 激光样品聚焦 l 电脑产生十字线，准直管尺寸指示器，用于样品准定位 l 可变聚焦距离控制，以适应变化的样品外型 l 样品变大：选择30、50、或100放大。提供固点聚焦距离或可变聚焦距离选项 测量 l 鼠标器启动“点击”测量 l 自动测量重复功能 l 安全：多用户多级密码保护 电脑/处理器 l oxford是IBM的授权PC附加值销售商。请致电oxford了解最新的IBMPC规格。IBM电脑由IBM提供3年保证 l 打印机：Epson或惠普喷墨打印机。请致电oxford查询最新的型号和规格。可联网 荣誉 l 由oxford拥有/管理的国际现场服务团队 l 符合ISOGuide25号的要求 l CE标志 --------------------------- 我司其它相关产品为： 一 测厚仪系列： CMI--900/950X-荧光镀层厚度测量仪 X-stata960X射线镀层测厚仪 CMI--243手持式电镀镀层测厚仪 X-met3000XRF手持式ROHS仪 CMI700PCB面铜及孔铜厚度测量仪 CMI511手持式PCB孔铜测厚仪 CMI563手持式面孔测厚仪 CMI200手持式测厚仪 二 光学影像系列：光学影像投影仪系列产品光学影像量测仪系列产品三坐标测量机系列产品三维激光抄数机系列产品 三其它相关系列：树脂流动性测试系统铜箔抗剥离强度侧试仪 GT-凝胶化时间测试仪 RF-0.7E型半固化片树脂标定流动性试验压机 SP系列自动温控焊锡锅 LE-1型实验室蚀刻机 TS系列台式取样剪床长臂板厚测量仪其它实验室设备。。。。。。。。。。。 联系人： 陈昭成 （先生）手 机： 13826558325 传 真： 0755-27857558 邮 箱： djt9981@163.com 地址: 深圳市宝安区创业路25区21栋503