数字集成电路多值逻辑测试仪

数字IC多值逻辑测试仪，是我们通过总结国外同类产品的优点,本着实用、方便、测试精准的宗旨，面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪（并且在不断地完善之中）。该仪器特别适合，整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件级进厂测试。目前，对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试，已不能满足IC用户的测试需求。ICT3100 数字IC多值逻辑测试仪，利用独创的多值参数比较法，可以对数字IC进行功能测试并同时完成各项直流参数测试。ICT3100完全可以满足IC用户的参数测试要求。ICT3100是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的优秀测试仪器。
主要特点：
1． 测试电源拉偏状态下，输出电平加载测试。
2． 对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时，完成真值表功能测试。
3． 真值表功能测试的同时，完成“三态”（高阻状态）漏电流测试。
4． 对IC输入电流、功耗电流测试。
5． 输入漏电流及交叉漏电流测试。
6． 测试过程无须人工干预。
7． 用户可以自选测试模式，使用方便、操作简洁。
8． 可自动识别74系列中的CMOS器件。
9． 可以查找未知IC的型号。
目前ICT3100的作用单位已遍及通信、电子仪器、电力电子、办公自动化设备、计算机整
机、交通电子、消防科学器材等各个领域，并获用户一致好评。

技术规格：
产品主要性能：

在功能测试的基础上

□ 测试器件的输入端注入电流。
□ 测试器件的输入端交叉漏电流。
□ 测试器件的输出端“三态”及“OC”门。
□ 测试器件的输出负载电流。
□ 测试器件的功耗电流。
□ 查找未知芯片型号。
□ 可以单次测试，也可以循环测试.
□ 可自动识别74系列中的CMOS器件
（如：74C、74HC、74HCT等）。
当被测芯片被确认为74系列CMOS器件时，仪器将自动地对其进行测试并在显示屏前显示一
个“C”字（此时被测器件电源为TTL电源）。

本产品所提供的多值测试参数：

□ 8种可选择的测试电源。
□ 根据不同材料的IC设置多种输入端注入电流。
□ 多种测试电压比较值。
□ 功耗测试。

以上参数的不同组合构成不同的测试模式，其中包括用户自定义模式及全组合测试模式。

测试模式：

模式O： 全组合参数测试。
模式1-C：操作与模式O相同，但各有其不同的测试参数数值。
模式D： 任选输入负载电流及测试电源和输入电流测试。
模式E： 自检。内容包括计算机部分、显示、键盘及测试管脚电路。
模式F： 自编程测试。

测试范围及测试品种：

□ 54 系列；4500 系列；
□ RAM 256K bit
□ 74 系列；40000 系列；
□ EPROM 64K bit
□ 4000 系列；C00 系列。
□ 光耦

目前市场上所见到的某些功能测试仪无法对IC器件进行直流参数测试和比较，因此会把
74LS373与74LS374、74LS352、74LS353、74LS125与74LS32及OC门与图腾柱输出门等功能性
能特性完全不一致的器件混为一类。这种仪器实用价值很低，用仪器测试通过后，有时上
机却不能正常使用。本产品绝不会发生类似错误。
该产品最适合器件生产厂、整机生产厂作器件测试筛选之用，也适合科研、学校、部
队、IC经销商使用。它是科技工程技术人员开发新产品的得力工具。