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低相位差高速检查机RE-100
产品特色：可测量从0nm开始的低相位差（残留应力）。
检测光学轴的同时，同步高速测量相位差(Re.)。
(0.1秒以下的高速同时量测)
偏光检测仪无任何驱动组件干扰，可提高再现性量测精度。
无需复杂参数设定，操作简单易懂。
550nm以外，亦可支持其它波长量测。
Rth量测、全角度量测。(需搭配自动旋转倾斜装置)
搭配拉力测试机可同时量测薄膜偏光特性与光弹性。
(此系统为特殊规格)
测量原理：
RE-100，系采用光结晶像素与CCD感光组件所构成的偏光检测仪。搭配带有穿透率特性的各种偏光组件，可以高速同时进行相位差与光学轴的量测。
CCD感光组件会自动撷取经过偏光后所呈现的画面进行解析。相较以往，不需要再使用任何的驱动组件来寻找偏光后的受光强度。不但可提高再现性的精度、更具备长时间使用的安定性。
测量原理：
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相位差（ρ[deg.],Re[nm]） |
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光学轴方位角（θ[deg.]） |
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椭圆率（ε）,方位角（γ） |
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三次元屈折率（NxNyNz） |
应用范围：
■相位差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种机能性薄膜、
■树脂、玻璃等透明带有低相位差之样品(残留应力)
规格样式：
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样品尺寸 |
最小10×10mm ～最大100×100mm |
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量测波长 |
550nm （标准规格）*1 |
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相位差量测范围 |
约0nm ～约10μm |
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相位差量测精度 |
0.05nm （3σ）*2 |
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光学轴量测精度 |
0.05°（3σ）*2 |
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解析组件 |
偏光检测仪 |
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量测口径 |
2.2mm×2.2mm |
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通讯接口 |
100W 卤素灯或LED光源 |
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尺寸 |
300(W) × 560(H) ×430（D) mm |
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重量 |
约20 kg |
*1可选择其它波长 *2量测水晶波长板之精度(约55nm，2枚型)
测量实例：
■视野角改善膜A
■视野角改善膜B
■视野角改善膜A ■视野角改善膜B
偏光检测仪在生产在线的应用(In-line Process)
■USB传输，可适用于多种环境的架设。
■超高速量测，最适用于生产线中的实时监控。
■可搭配复数偏光检测仪，同时进行多点位、多角度(Rth)量测。
