韩国Micro Pioneer XRF 2000H X-Ray镀层测厚仪/膜厚仪

韩国Micro Pioneer XRF2000系列镀层测厚仪

韩国Micro Pioneer XRF 2000 X-Ray镀层测厚仪/膜厚仪

产品介绍

X萤光射线膜厚分析仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用於材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

XRF-2000系列分为以下三种：
1.H-Type:密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。
2.L-Type:密闭式样品室，方便测量样品较小，高度约30mm以下。
3.PCB-Type:开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测。

应用:
测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的范围：Ti(22)~U(92)。
行业:
五金类、螺丝类、PCB类、连接器端子类行业、电镀类等。
特色:
非破坏，非接触式检测分析，快速精準。
可测量高达六层的镀层(五层厚度+底材)并可同时分析多种元素。
相容Microsoft微软作业系统之测量软体，操作方便，直接可用Office软体编辑报告。
全系列独特设计样品与光径自动对準系统。
标準配备:溶液分析软体，可以分析电镀液成份与含量。
準直器口径多种选择，可根据样品大小来选择準值器的口径。
移动方式：全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。
独特2D与3D或任意位置表面量测分析。
雷射对焦，配合彩色CCD擷取影像使用pointandshot功能。

标準ROI软体搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。

光学20X影像放大功能，更能精确对位。

单位选择：mils、uin、mm、um。
优於美製仪器的设计与零件可靠度以及拥有价格与零件的最佳优势。
仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。
测试方法符合ISO3497、ASTMB568及DIN50987。