JTXSI红外线测温仪/金泰科仪测温仪

JTXSI红外线测温仪

JTX系列红外测温仪的工作原理是根据物体的红外辐射强度计算出物体的表面温度。HX红外测温仪的最大特点是无需接触即可测量物体的温度。因此，它可以方便地测量难以接近或移动的目标温度。

JTX系列红外测温仪提供两线制4－20mA电流输出，可以方便地安装在多种应用场合，特别适合于需要长距离、较强干扰的工业环境的安装。

JTX全系列的红外测温仪提供多种温度范围，不同的测量波长，不同的光学系数供用户选择，满足用户不同的测量要求。

JTX系列红外测温仪具备现场发射率调节功能，方便用户针对不同的被测目标进行现场修正，提高测量结果的有效性，真实性。

JTXSI红外线测温仪：

JTXSI基本性能

环境等级IP65 (NEMA-4)

环境温度0 – 60°C

存储温度-40 – 85°C

相对湿度10 – 95%（不结露）

材料铝合金

尺寸φ42 mm x 180 mm

重量310 g

振动IEC 68-2-6:任意轴11-200 Hz.3G

冲击IEC 68-2-27:任意轴11ms. 5

JTXSI电气参数

电源 12VDC – 30 VDC

拉电流最大100mA

模拟输出 4 - 20 mA

输出阻抗最大回路阻抗500?（20 - 30 VDC）

JTXSI测量参数

光谱范围1µm

温度范围700 – 1700°C

光学分辨率150:1

响应时间10 ms (95%)

系统精度±1 %

重复性±0.5 %

温度分辨率1 °C

附选件：可调安装支架,可提供RS485输出