供应X荧光光谱仪 RoHS&测厚(图)

品牌：

X

型号：

X850/850B

特点

·可同时检测RoHS、镀层测厚、镀液分析和元素分析

·XYZ三维移动样品台，镭射对焦，操作简单

·多种准直器和滤光机制可供选择

·光闸系统，防止X光泄漏，操作更安全

·人性化软件界面设计，易学易懂，更方便人员操作

·探测器采用先进的电制冷方式，无需液氮制冷，增加安全性

·无需复杂的前处理过程，可以原样放入，检测准确度和精密度高，检测限达到1PPM

元素含量 分析指标	分析范围：1PPM-99.99%准确度：相对误差5%以内 精密度：相对标准差5%以内检出限：1PPM	镀层厚度 检测指标	准确度：相对误差第一层5%，第二层10%以内 精密度：相对标准差5%以内 检出限：0.01μm
X光管	50W(4-50KV 0 -1.0mA)标配	测试软件	基本参数法
探测器	硅锂半导体探测器	定性功能	自动标示存在元素
滤光器	一次滤光	定量功能	出厂前完成标定曲线，客户直接测试，无需标样
准直器	多准直器可选，自动切换	报告结果	自动生成
样品观察	CCD高精度彩色摄像头	数据处理	MS-Word
对焦系统	镭射对焦	软件	RoHS检测软件，镀层测厚元素分析软件
测量方向	从上向下	重量	100kg
可测元素	K到U	稳压系统	UPS稳压电源
测试时间	镀层测厚：10-100秒 元素分析：60-300秒	电脑	联想电脑
样品台	XYZ三维移动样品台，操作杆、软件双重控制	打印机	彩色喷墨打印机