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| 品牌： | 日本岛津 | 型号： | Thick 800 X荧光光谱仪 |
简单介绍Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光定位，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量应用领域：黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；贵金属加工和首饰加工行业；银行、首饰销售和检测机构；电镀行业。
Thick 800 X荧光光谱仪的详细介绍
Thick 800 X荧光光谱仪技术指标：元素分析范围：从K到U
一次性可同时分析多层镀层
分析厚度检测出限最高达0.01um
同时可分析多达5层以上镀层
相互独立的基体效应校正模型，最先进厚度分析方法
多次测量重复性最高可达0.01um
长期工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品）
温度适应范围：15℃~30℃
输出电压220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）
配置
开放式样品腔
二维移动样品平台
探测器和X光管上下移动可实现三维移动
双激光定位装置
准直器自动切换装置
玻璃屏蔽罩
正比计数盒探测器
信号检测电子电路
高低压电源
X光管
计算机及喷墨打印机
样品腔尺寸：517mm×352mm×150mm
外型尺寸：648mm×490mm×544mm
2、技术指标：
2．1● 工作温度：15-30℃● 电源：AC :220V ±5V
2．2元素分析范围从钾K到铀U
2．3一次可同时分析多层镀层
2．4分析厚度检测出限最高达0.01um ，多次测量重复性最高可达0.01um
2．5长期工作稳定性小于0.1um ( 5um左右单镀层样品 )
2．6测量时间：60-300秒
3、仪器硬件部分主要配置：
3．1正比计数盒探测器
3．2●X 光管●高、低压电源●MCA多道分析器
3．3●开放式样品腔●二维移动样品平台●探测器和x光管上下移动可实现三维移动
3．4●双激光定位装置●准直器自动切换装置●玻璃屏蔽罩●信号检测电子电路
3．5计算机及喷墨式打印机
4、仪器软件配置：
4.1、测厚分析软件（配送）
功能介绍：检测、分析镀层的厚度和成分, 可分析单镀层、多镀层以及合金镀层, 具有多种镀层的分析方法, 可做同时显示英制和公制单位
4.2、全元素分析软件（可选购）
功能介绍：能准确，快速地检测、分析出产品的组成成分，有多种分析计算数学模型，方便对不同材料，不同样品的分析测量，可制作多条工作曲线，各个曲线独立测试条件，样品测试方便公司联系方式
- 新区诺恩精密仪器销售部 [加为商友]
- 联系人王海容(女士)
- 地区江苏-无锡市
- 地址中国 江苏 无锡市 五洲国际工业博览城二期83栋105号
