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| 品牌： | 精密光学计JD20 | 型号： | 精密光学计JD20 | 光源： | 精密光学计JD20 |
| 波长范围： | 精密光学计JD20（nm） | 焦距： | 精密光学计JD20（mm） | 外形尺寸： | 精密光学计JD20（mm） |
| 重量： | 精密光学计JD20（g） | 适用范围： | 精密光学计JD20 |
| 精密光学计JD20 |
1、 精度高，测量数据可靠。 2、 采用光学投影读数，影屏上亮度大，匀称、像面清晰，操作方便。 3、 工作台结构采用互换式，装拆、调整极为方便。 4、 灯光调节灵敏可靠。 二、用途：本仪器是高精度比较式测长仪器，在工厂计量室及计量检测所等部门广泛用于测量三、四等量块及精密零件（如钢球、滚柱、阶梯形精密零件、塞规）的外尺寸。 三、规格参数： 1、比较测量范围（mm）：0—180 2、最小分划值：0.2μm 3、分划板分划范围:±100个分度 4、测量力（N）：1.20±0.2 5、分划线像的微调范围: ±5个分度 6、每个分划的视见宽度：1.7㎜ 7、测量轴与测帽内径配合的外径尺寸：φ6g6 8、测帽内径配合尺寸：φ6H7 9、示值误差：（0.05+△L/400）μm其中△L—比较测量时的量程（μm） 10、示值稳定性：0.02μm 11、仪器的外形尺寸(㎜):320×230×820 12、仪器重量：30㎏ 四、附件（含标配件及选购件）： 球筋工作台 测帽提升器 平面工作台 R20球面测帽 七筋工作台 φ2平面测帽 高量块移动架 φ8平面测帽 低量块移动架 1.5×8刃形测帽 平面平行平晶 1×2刃形测帽 |
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