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上海恒平紫外可见分光光度计754

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公司: 上海正慧工贸有限公司 
单 价: 14000元/台 询价 
最小起订量: 1 台   
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2012-06-19 04:44
相关信息
 
产品详细说明
加工定制:品牌:上海恒平型号:754
波长范围:200~1000(nm) 外形尺寸:455*430*220(mm)
752、754、756PC产品适用于对紫外、可见光谱区域内物质的含量进行定量分析,可广泛应用于工厂、学校、冶金、农业、食品、生化、环保、石油化工、医疗卫生等单位的基础实验室。

功能
自动波长,键盘输入,波长设定和转换更快速。
一阶过零、一阶线性标准曲线测试、最多可建立12个标样点的标准曲线。
标定曲线拟合度,浓度直读,可保存50条曲线参数。
浓度因子设定和浓度设定的浓度直读功能,可保存200条测试记录。
系统时钟管理,暗电流校正,波长校正,USB数据接口,灯切换波长设置。
8键键盘,内置6个常用工作波长,一键调取(752)
UV-Solution 2.0工作站软件,具有各种测试、扫描功能(756PC)

型号 752 754 756PC
带宽 4nm 4nm 2nm
波长范围 200~1000nm(步进间隔0.1nm) 190~1100nm(步进间隔0.1nm) 190~1100nm(步进间隔0.1nm)
波长准确度 ±2.0nm(开机自动校准) ±1.0nm(开机自动校准) ±1.0nm(开机自动校准)
波长重复性 1nm 0.5nm 0.5nm
测定范围 T:-1.0~200.0%T,A:-0.5~3.000Abs,F:0~9999,C:0~9999
透射比准确度 ±0.5%T
透射比重复性 ±0.2%T
杂散光 ≤0.5%T(在220nm、340nm处) ≤0.3%T(在220nm、340nm处) ≤0.15%T(在220nm、340nm处)
基线直线性 / / ±0.004A
稳定性/基线漂移 ±0.003A/h ±0.002A/h ±0.002A/h
显示器 128×64大屏幕液晶显示



外形尺寸:455*430*220(mm)

软件功能说明
软件型号 适用仪器 软件功能
UV-Solution 1.0 752、754 定量测试、吸光度监视等功能
UV-Solution 2.0 756PC 定量测试:可进行一、二、三阶拟合标准曲线测试,最多可通过20个标样建立标准曲线。可选择单波长,双波长或三波长条件下测试。
动力学测试:对样品进行时间扫描,测试时间可达7天。采样时间0.5、1、2、5、10、30、60秒可选,可保存10000条测试数据。
波长扫描:在任意波长范围内以0.1、0.2、0.5、1、2、5nm的扫描间隔对样品进行扫描,并对图谱进行缩放、平滑、四则运算、坐标调整、峰/谷自动检测、1~4阶导数等数据处理,可容纳八个扫描图谱。
多波长测试:最多可设置15个测试波长点。
数据导出:数据和图谱可导出为txt和bmp格式文件供用户编辑。
附功能:核糖核酸/蛋白质测量:快速测量DNA样品在特定波长下的吸光度,自动计算样品浓度及DNA Ratio。
公司联系方式
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