供应二手LCR电桥HP4274A HP4278A
HP 4274A LCR电桥
测试原理及应用
• 频率范围:100HZ - 100KHZ
• Test signal level: 1mV to 5Vrms
• 0.1% basic accuracy
• High resolution - 5½ digit; D=0.00001
• Measures L, C, R, D, Q, ESR, |Z|, Ø, X, B, G plus Deviation mode
• Frequency Range: 100Hz to 100kHz in 11 spot frequencies
测量范围：
Parameter Range
L 100.00 nH - 1000.0 H
C 1.0000 pF - 1.00 F
R, |Z|, ESR & X 100.00mohms - 10.000Mohms
D 0.00001 - 9.9999
Q (1/D) 0.01 - 9900
G & B 1.0000 µS - 100.00 S
Ø 0 - ±180°
RCL测试仪
4278A
★测量速度:6.5ms/10ms/21ms ★测量参数:C-D,Q,ESR,G ★C-D测量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms) ★0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz电容测试仪是一台高速高可靠的精密测试仪器，用于生产线和质量控制中作电容器的进出厂检。Agilent 4278A 能改善小电容量和中等电容器的测试效率（可测量以200μF，这个电容量能容纳多数陶瓷和薄膜电容器的数据值）。
技术指标：
测量参数 C-D，Q，ESR，G
测试信号
频率： 1kHz和1MHz±0.02%
信号电平： 0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步进
测量时间： 6.5ms/10ms/21ms(典型值）
测量范围 测量参数 1kHz 1MHz正常模式
1MHz高精度
C 0.01pF~200.000μF 0.00001pF~1280.00pF
0.00004pF~2663.00pF
D 0.00001~9.99999 0.00001pF~9.99999
0.00001pF~0.99999
电缆长度补偿 0,1或2m
比较器： 对电容的10仓室分类，对D、Q、ESR和G的合格/不合格测试
存储卡插槽 外部存储器的存储卡插槽用于对控制设置和比较极限进行分类和调用（存储卡可任选，参见下面的选件004）。
一般技术指标：
工作温度/湿度 5°~45℃，在40℃时相对湿度为95%
电源 100,120,220Vac±10%,240Vac+5-10%,48~66Hz,200V
Amax
尺寸 约426mm(宽）*177mm(高）*498mm(长）（16.77英寸*6.97英寸*19.61英寸)
重量：
约15kg(33磅，标准）
订货信息：
•4278A 1kHz/1MHz电容测试仪
Opt W30 扩大的维修服务
Opt 001 只1kHz测试频率
Opt 002 只1MHz测试频率
Opt 003 1%的频率漂移；
要防止当元件测试接触靠近测试装置时可能出现的测试信号干扰
Opt 004 存储卡
Opt 005 -1%频率漂移
Opt 006 +2%频率漂移
Opt 101 GPIB兼容性
Opt 201 处理器接口
Opt 202 处理器接口
Opt 301 扫描器接口
可提供的附件：16270A 存储卡套件
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