供应DI 多功能扫描探针显微镜

参考价格：面议　　产地：美国       
技术参数
1. 测试噪声: <0.5?。(以零扫描方式验证)
2. 样品尺寸: x,y轴方向>200mm, z轴>25mm。
3. 扫描非线性：<1.5%。
4. 设备适用范围：测量金属、非金属、生物、半导体等材料。
5. x,y轴方向扫描：范围>90μm，最高分辨率优于0.3nm。
6. z轴方向扫描：范围>6μm，最高分辨率优于0.05nm。 
技术文章
此仪器没有任何技术文章
主要特点
1. AFM 功能
2. STM 功能
仪器介绍
Veeco DI SPM为目前国际上最高级的探针扫描显微镜合理配置，
专利技术超过100项，可以最大程度地发挥设备的优异特性，
使其研究作用能最大的发挥。
广泛应用于各类材料及相关领域的科学研究，
用于观察样品表面的各种物理特性；
可以观察光学镜片的表面粗糙度及微观形貌；
观察光学镜片表面的物质相图；
观察光学镜片表面度膜后膜层的微观结构；
光学镜片表面的纳米刻蚀；
以便于深入研究光学镜片表面及物质结构问题。
观察生物物质的微观形貌