光谱仪，能量色散X荧光光谱仪，微量元素分析仪

用途：测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
也可以测量镀层厚度

特点：

◆　无损测量，仪器对被测物无任何化学和物理破坏

◆　测量准确，可以与化学方法相媲美

◆　测量快速，分析几十种元素仅需几分钟

◆　测量从硫到铀共75种元素

◆　测量范围：2ppm~99.99％ (测量RoHS指令规定的Cd/Pb/Hg/Cr/Br等5种元素)

◆　测量时间：60~300s

◆　使用国际知名电制冷探测器，稳定可靠，能量分辨力小于160eV

◆　X射线管的管压: 5~50kV，管流: 50~1000uA

◆　内置高清晰度摄像头

◆　内置美国产高压模块

◆　光路增强系统

◆　增强的信噪比设计

◆　精确、快速的电路测试和计数系统

◆　内含丰富软件，多种基体效应校

技术指标：

A. 分析精度：0.05%

B. 分析范围：1PPM-99.9%

C. 测量元素：Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Pt、Rh、Cd、Ru从硫至铀等 75 种元素

D. 测镀层厚度、精度：0.005μm

E. 重量：30KG

F. 尺寸：350*500*400MM

G. 探测器：正比计数器

H. X射线源：X射线光管

I. 测量时间：60~300秒

J. 工作温度：15~30℃
K. 进最小距离：0.01MM

L. 作电压：AC 110V/220V

配置：

A. 单样品腔

B. 正比计数器

C. 放大电路

D. 高低压电源

E. X光管

F. 激光定位系统

G. 50至100倍物体放大