光声光谱仪

原理介绍

光声光谱学是光谱技术与量热技术结合的产物，光声效应是在1880年由A.G.贝尔发现的。它的机理是:当物质受到光照射时,物质因吸收光能而受激发，然后通过非辐射消除激发的过程使吸收的光能（全部或部分）转变为热。如果照射的光束经过周期性的强度调制，则在物质内产生周期性的温度变化，使这部分物质及其邻近媒质热胀冷缩而产生应力（或压力）的周期性变化，因而产生声信号，此种信号称光声信号。光声信号的频率与光调制频率相同，其强度和相位则决定于物质的光学、热学、弹性和几何的特性。若入射单色光波长连续变化，则可测到随波长而变的连续光声信号图谱，这就是光声光谱。

由于光声光谱测量的是样品吸收光能的大小，因而反射光、散射光等对测量干扰很小，故光声光谱适于测量高散射样品、不透光样品、吸收光强与入射光强比值很小的弱吸收样品和低浓度样品等，而且样品无论是晶体、粉末、胶体等均可测量，这是普通光谱做不到的。光声效应与调制频率有关，改变调制频率可获得样品表面不同深度的信息，所以它是提供表面不同深度结构信息的无损探测方法。

本仪器基本性能参数

1.光谱范围：300-1200 nm，可适当扩展。

2.光谱分辨率：2 nm。

3.测量最大偏差：± 1.5％。

4.波长读数精度：＜l nm。

5．信号调制频率：5－200 Hz连续可调