X射线荧光光谱仪Ux-210

强大的软件功能

高度智能化设计使操作更加简便，轻松成为测试专家。

可根据测试情况，自动设定各操作单元动作及相关技术参数。既保证了相关器件的寿命，避免了人为操作误差。

全自动高精度背景拟合、多元回归等解谱方法的应用，使复杂材质的检测更加准确、便捷。

特别预置的谱图对比功能，很方便的实现历史谱图与被测谱图的对比，利于对数据变化材质的精确分析，进一步提高企业的风险应对水平。

简单、迅速的数据管理与报告输出格式，方便用户进行相关的数据管理与报告输出。

开放性工作曲线

用户可很方便的根据自身材质状况，建立风险材料的工作曲线，全面提高工作曲线与被测材料的对应性。从而大幅度提升风险物质的检测精度。

严谨的硬件集成与结构设计

对可能影响整机精确度及稳定性的核心器件，全部采用进口高端原厂器件。

模块化设计与组件选择，确保了整机性能的稳定性与未来服务的操作简便性。

特别设计的原级、二次滤光系统，既保证了对有害元素的激发效率，同时全面降低了作为干扰因素的背景强度，充分提高峰背比，大幅度降低检出下限。

领先业界的全射线三重防护系统（软件防护、硬件防护、迷宫式结构），根本上避免了故障、误操作等可能的辐射伤害。确保了机器操作过程中，仪器环境辐射量低于环境本底值。（开盖测量除外。大样品进行开盖测量时的特别警示系统，进一步确保用户在该类物质测试过程中的安全顾虑）。