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该仪器已获国家专利，专利号201120337217.3。
产品介绍:
我公司自主研制的热分析仪系列产品主要面向工业用户、科研与教学，广泛应用于各类材料与化学领域的新品研发，工艺优化与质检质控等。主要测量与热量有关的物理和化学的变化，如物质的熔点熔化热、结晶点结晶热、相变反应热、热稳定性（氧化诱导期）、玻璃化转变温度等。
技术参数:
1. 温度范围: 室温~1600℃
2. 量程范围: 0～±2000μV
3. DTA精度: ±0.1μV
4. 升温速率: 1～80℃/min
5. 温度分辨率: 0.1℃
6. 温度准确度: ±0.1℃
7. 温度重复性: ±0.2℃
8. 温度控制: 升温：程序控制 可根据需要进行参数的调整
降温：风冷 程序控制 可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等
恒温：程序控制 恒温时间任意设定
9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作
10. 气氛控制: （选配）气体流量计，气氛转换装置
11. 数据接口: RS-232串口通讯 配套数据线和操作软件
12. 主机显示: 汉字大屏液晶显示 蓝底白字
13. 参数标准: 配有标准物,用户可自行对温度进行校正
14. 基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线
15. 工作电源: AC 220V 50Hz
