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X-射线荧光光谱分析仪的矿业勘探应用
对矿体的评估 无须等待和花费即可现场确定矿石等级。现场元素鉴定。
•对铣头、精矿和矿渣的分析 对进料、精矿、和矿渣进行快速、精确的分析，以建立高效开采和富集的过程。
•矿山图的绘制以及矿石等级的控制,可实时通过现场检测多个样品，来引导钻井程序、管理挖掘和爆破。
•矿物勘探 在野外对土壤、沉积物、钻孔样品等地球化学进行测定，更高效地使用勘探经费。
•对环境进行监测,现场监测废水，以及附带监测低级别的金属浓聚物。 产品特色：
便捷式分析仪一个重要的功能要素是它能与其它硬件和软件交互，尤其是便捷个人计算机和其它便捷式产品。这样信息可以尽快输入至数据库和绘图系统中，最关键的方面是将操作系统和个人计算机与仪器进行结合。美国伊诺斯公司将其产品与惠普公司运行Windows CE操作系统的PAQ掌上电脑进行结合。 伊诺斯矿石分析仪所表现出的卓越性能在同行业中无可比拟，跟其他产品相比，它在检测时间大大缩短的同时分析精度也得到进一步提高，伊诺斯矿石分析仪提供多种同位素激发源，可供用户根据具体应用进行选择。 在采矿行业中，一般需要检验分析的元素包括：钛，钒，铬，锰，铁，钴，镍，铜，锌，铷，锶，锆，铌，钼，银，锡，锑，钽，铪，钨，铅，铋。根据不同分析仪的不同配置，仪器检测所侧重的元素也会有所不同。我们可以根据您对金属元素分析的具体要求来为您选择最适合您的金属分析仪器。
原地检测：只需将伊诺斯矿石分析仪直接接触待测地面、岩石表面、反循环（RC）样品、循环气流（RAB）样品或钻核，用户即可在短时间内采集大量的数据，从而能够有效地描述矿脉、为矿石分等级以及表征潜在的环境危险。 同时手提式伊诺斯元素分析仪在进行检测方面应用具有：快速，直观：通常使用120秒的检测时间就可达到矿石分析的要求无损不破坏：由于采用X荧光能量色散原理，不需要取样及破坏待测样品使用成本低:其价格仅为台式检测仪的50%，并且不需要专门使用专业检测人员，普通QA员工经过1天左右培训后就能熟练操作该仪器。 Alpha4000技术指标：
品牌 INNOV-X
产地 美国原装制造
X光管 W靶，10-40KV，10-50uA，5个过滤镜
分辨率 Si PiN 检测器，<210eV FWHM 5.95KeV
高温探头 耐高温，最高工作温度426℃
重量 <1.6Kg
尺寸：（高x宽x深） 20x22x10
标准元素（26个） Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Hf,Ta,W,Re,Pt,Se,Hg,Pb
Bi,Zr,Nb,Mo,Ag,Cd,LE,Sn,Sb
检测限度 Cr，Cd 2 0 PPM
Hg，Pb 2 PPM
Sb 4 5 PPM
Br 1 PPM
工作模式： 合金分析模式
矿石分析模式 显示合金材质中元素的含量
显示矿石材质中元素的含量
数据库 ASNI国际标准库，含255个牌号，另可由用户自定义3 X 100个牌号
可由用户自定义特殊材质曲线，变于检测非常规材质
数据存储及输出 自动存储20000组数据，输出数据为EXCEL文档，USB数据接口
电池及充电器 锂电池2根，单根电池8小时常规操作，4小时持续操作，2小时完成充电
电脑及软件 HP POCKET PC；WINODWS CE
显示器为彩色带背光
应用软件 Innov-X Systems
Alpha 4000供货规格及参数
制造厂家：INNOVATIVE X-RAY TECHNOLOGIES（USA）
硬件：
1，美国Innov-x公司手提式X荧光有害金属成分分析仪主机
2，Li 18S 锂电池一套（两只）及充电器：27W-hr，单只电池：8小时常规操作，4小时持续操作
3，HP iPAQ POCKET PC掌上电脑：重475克，配有标准套架，可直接连接打印机及个人电脑；带充电
器
4，USB、COM通讯电缆，直接连接桌面个人电脑，仪器中测量结果输出为EXCEL文档,便于数据库的
建立及打印
5，316标准件：便于能谱线的标准化
6，128M储存卡：可储存20000组测量数据
7，IP66防水运输箱
软件：
1，操作系统：WINDOWS CE
2，应用软件：Innov-X
3，标配模式：矿石模式
4，选配模式：合金分析模式、土壤分析模式
技术规格：
1，激励源：充电电池激发X光，10-40KV，10-50uA，5个过滤镜
2，探测器：分辨率<210eV FWHM,5.95KeV
3，标准元素：Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,Hf,Ta,W,Re,Pt,Se,Hg,Pb,
Bi,Zr,Nb,Mo,Ag,Cd,LE,Sn,Sb
4，合金家族：铁基，镍基，钴基，铅基，铜基，锌基，高温合金等
5，外型重量：手提式，锥型探嘴，总长22CM，<1.6KG
案例研究--------铜矿
便捷式X-射线荧光光谱分析仪为采矿作业提供了许多操作和成本的优势，在案例中将仪器结合进行品位控制。 ● 避免了实验室周转所耽误的时间。
● 立即标出品位，亚品位和废料。
● 迅速划出矿石边界。
● 防止将品位稀释。
● 防止将矿石送进垃圾堆。
● 提高矿石移动过程中的生产能力和效率
典型来说，露天铜矿中的矿品位控制确定方法是在品位控制钻探或爆破洞取样中收集1公斤矿石样品，然后将样品送至现场实验室或外地商业实验室进行分析。这种分析所消耗的时间给品位控制决定和生产带来了限制。根据样品的产量，一般现场实验室返回数据需要2-7天的时间。如果将运输和多余样品矿都考虑进去，外地实验室分析需要更长的时间。
本案例研究调查了使用X-射线荧光光谱分析仪的效率，它迅速确定了品位控制数据，允许地质部门规定矿场矿石/废料的边界。当时在白布样品矿包中直接使用了一个X-射线荧光光谱分析仪测试事先未准备的爆破洞切口（注意爆破洞切口可在钻洞现场测试）。样品矿随后被翻动，一部分送至现场的矿场实验室，其它部分被送至一个商业实验室。 实验室分析的数据与X-射线荧光光谱分析仪分析的数据形成一份完美的线性对比，报告结果R2值为0.97。X-射线荧光光谱分析仪的数据与实验室铜精矿分析值有20%的不同，但这些差异低于0.15%。从平均值来看，X-射线荧光光谱分析仪报告的铜精矿比两个实验室低0.01%，平均相对百分偏差为3.42%。这些说明此分析 仪能的出完美的数据，不需要分析前的样本准备且消耗时间短。 对于X-射线荧光光谱分析仪最重要的一点是，它能够在爆破洞矿石样本中完全将废料与矿石区分开来，便捷式X-射线荧光光谱分析仪不会将实验室分类是垃圾的样本认作矿石，反过来也如此，这明显表明X-射线荧光光谱分析仪在 矿中非常适合用于品位控制工具。 元素分析仪所获得的结果表示它与实验室数据非常一致，并提供了证据表明，便捷式X-射线荧光光谱分析仪是一个可以 露天矿场采矿中迅速计算出铜品位的工具。能够迅速获得可靠机会允许矿场采矿地质部门在当地将分析得出的数据输入至品位控制模型中并指导采矿作业。
Innov-X Alpha系列手持式元素分析仪与ICP实测数据对比
设置处理分析校准因数
例子：均质化一组样品，并分裂开。每个样品一部分被送到外部试验室作分析。其余部分以Innov-X分析仪来分析。这些都是非常好的样品，均质化良好，并体现明显特征，所以相互关联非常好 。很多实际工作中样品的关联性可能都没有这些所表现的那么好。 针对铁和铜元素的两组对比数据如下：
所有在Innov-X分析仪上的测量读数，对铜而言，低约为12%；对铁而言，为20%。 对于有些客户，这个误差根本不是问题。有些客户甚至只是需要来确定“高”或者“低”，所以不需要太高精度。而有的客户可能希望用分析仪来获得更多精确数值，在这种情况下，有必要根据这些样品标准对比数据进行分析仪的校正。 步骤：图示数据。Innov-X数据必须在X轴上，实验数值在Y轴上。（注，这个顺序很重要）确定最合适线性，以及倾斜度和断点。
图表的倾斜度和断点可直接输入分析仪中 进行仪器校正。在有些情况下，像这样的铜数据的，对倾斜度而言，单单就输入修正已足够，因为断点几乎为零。在别的情况下，比如铁例子，这倾斜度和断点该被输入。 该软件允许用户输入多套校正因数用于不同的应用，或不同矿体。一组因数被起一个名字，再输入。这些因数到时就要可以凭名字来选择。 从处理分析模式，挑选选项-编辑因数，输入管理员密码，选择Add项增加新的一组因数，提供名字，输入每个元素的因数。 保存设置如果觉得完成了。选择文件-加载因数设置来改变所选择因数组。
增加修正因数，经过校正的数据结果显示如下：
由此可见，经过标准校正，INNOV-X 手持矿物元素分析仪的数据与实验室数据非常吻合，误差非常小.
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