供应材料分析和镀层厚度测量光谱仪

仪器介绍：
德国FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。
材料分析和镀层厚度测量，范围从铝（Z=13）到铀（Z=92）
详细信息：
德国FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的精确处理和使用了最新的软件和硬件技术， FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。
独一无二的WinFTM® V.3或WinFTM V.6软件是仪器的核心。它可以使仪器在没有标准片校准并保证一定测量精度的情况下测量复杂的镀层系统，同时可以对包含多达24种元素的材料进行分析（使用WinFTM® V.6软件）。

典型的应用范围如下：
单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等；
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金等；
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金等；
双镀层：例如Au/Ni/Cu、Cr/Ni/Cu、Au/Ag/Ni、Sn/Cu/Brass等；
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe；
最多24种镀层（使用WinFTM V.6软件）；
应用范围:
材料分析和镀层厚度测量，范围从铝（Z=13）到铀（Z=92）
特点:
操作容易、快速、手动定位样品。配备多种准直器，确保有高强度讯号。
标准软件 WinFTM®V.6；PDM
测量方向 由下而上X射线管 微焦距；可加Ni和Al滤片；可编程节能功
准直器 4个圆形准直器； 0.2mm/0.6mm/1mm/2mm
软件控制，马达调节
 0.3mmf最小测量面积
有效对焦范围 2mm
XY移动范围 不适用 Z-轴 不适用，光学对焦；可至测量台上2mm距离
测量室尺寸 320mm×460mm×90mm
测量室 大容量，配备固定及可更换的样品支架
对焦方式 利用旋钮视觉对焦
放大倍数 光学：34－46×；
数字：分级放大1、2、3、4×
总倍数：34－184×