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Advantest R3767CH/R3767CG网络分析仪
40MHz~8GHz(G:300K~
R3767系列网络分析仪
R3767系列8GHz网络分析仪能够快速和精确地测量幅度、相位、群延迟和阻抗。测量的频率范围为40MHz（300K）~8GHz。由于它具有最新高速信号处理结构，R3767系列网络分析仪可以进行10kHz RBW（IF带宽）的0.25ms/点的快速测量。R3765系列可应用于生产线或工程中。系列包括三种型号：A型（基本型），B型（内置电桥）和C型（内置S参数测试装置）。
R3767系列采用独立的分析仪功能和容易读数的7.8英寸大TFT彩色LCD显示，所以很容易进行数据比较和模式分析。内置的BASIC控制器功能、并行I/O功能和条码输入功能，使它很容易完成测量、分析和评估以及建立一个高速ATE（自动测试装置）系统。因此，R3767系列在使用标准FDD格式（720K，
*用于特定场合的三种类型：
A型：基本型
B型：内置电桥型
C型：内置S参数测试装置
*高速扫描
0.15毫秒/点（带有标称校准）
*高速测量：0.15毫秒/点
*具有4通道和8迹线的多功能显示
*100dB宽动态范围
*对于扫描中不同RBW和输出电平的标准程序扫描功能
针对不同应用的可选择最佳系统
根据你应用需要可以从R3767系列中选择出最佳型号。
A型提供了内置信号隔离器和两个输入终端，可同时进行两个器件的测量。将A型连接到选件双工器测试装置上，它可以用在手提电话前部，用三个端口（AND、RX和TX端口）进行双工器测量。当作为选件功放测试装置的组成部分时，主机可以修正并可同选件VIGs连用，这样手提电话的功放就可以测量了。在这种情况下，A型可以满足多种应用场合。
B型装有功分器和SWR电桥，能够同时测量传输和反射。当使用B型时，通过校准1口就可实现高精度测量。
C型装有S参数测试装置，这种装置提供了功分器和两个SWR电桥以及一个用于正向/反向转换的半导体转换开关。在自动反向模式中，C型可以高精度测量正向特性（S11和S21）和反向特性（S22和S12）。
作为系统的组成成分
32字×8行的荧光屏显示
独立应用
7.8英寸TFT彩色LCD
0.15ms/点的高速扫描
在电介质滤波器、SAW滤波器、隔离器、环行器、功率放大器、天线和其它电子元件的生产线的测量系统中，总产量是一个至关重要的参数。R3767系列能够实现0.15ms/点（10kHz RBW和归一化校准）或0.25ms/点 （10kHz RBW和2端口校准）的扫描速度。
具有4通道和8迹线的多功能显示
由于具有4通道和8迹线显示功能，R3767C系列能够在直角坐标和极性坐标中用Smith圆图对2端口器件的四个S参数（S11，S21，S22和S12）同时进行显示，这样就便于对测量数据进行快速分析。而且，具有TFT彩色LCD的R3767系列网络分析仪通过使用重叠数据显示和限制线功能可以对数据进行识别。
100dB宽动态范围
作为信息和通讯设备用于窄带和高频测量时，它内部装有用于测量电介质和SAW滤波器的更高、更真实性能指标的指令。R3767系列的100dB宽动态范围（10Hz RBW）非常适合于测试这类电子元件，例如测量通常的波纹和阻带的失真信号。
针对不同RBW和输出电平的标准程序扫描功能
程控扫描功能可以设置扫描频率以及改变分辨率带宽和输出电平。在测量滤波器特性时，通过改变分辨率带宽和输出电平可以实现通带和阻带中的更快速和更精确的特性测量。
技术指标
测量功能
显示通道：2通道（4迹线）：A型和B型
4通道（8迹线）：C型
格式
直角坐标：对数/线性幅度，相位，群延迟或复杂参数的实部和虚部
[Z]，R，X：（在阻抗转换测量中）
[Y]，G，B：（在导纳转换测量中）
相位显示扩展功能
Smith图表：对数/线性幅度，相位，实部和虚部，R+jX，G+jB
极性坐标： 对数/线性幅度，相位，实部和虚部
信号源特性
测量频率：
范围：
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- 地区广东-深圳市
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