发布信息当前位置: 首页 » 供应 » 质检/分析实验 » 光学测量仪 » 其他光学仪器 » 提供逆向工程质量检测三维扫描仪测量系统设备及服务

提供逆向工程质量检测三维扫描仪测量系统设备及服务

点击图片查看原图
公司: 苏州西博三维科技有限公司 
品 牌: 苏州西博
型 号: 三维光学面扫描系统—XTOM 
规 格: 工业型 
单 价: 面议 询价 
最小起订量:    
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 90 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2017-09-06
相关信息
 
产品详细说明
 

XTOM——三维光学面扫描系统

 

XTOM三维面扫描系统基于双目立体视觉原理,采用国际最先进的外差式多频相移三维光学测量技术,测量精度、测量速度等性能都达到国际最先进水平,与传统的格雷码加相移方法相比,测量精度高,抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小,可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业,如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。

 

 

应用范围

  • 逆向设计:快速获取零部件的表面点云数据,建立三维数模,从而达到产品快速设计的目的。

  • 产品检测:生产线产品质量控制和形位尺寸检测,特别适合复杂曲面的检测,可以检测铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等产品。

  • 其他应用:文物扫描和三维显示、牙齿及畸齿矫正、整容及上颌面手术。  

 

 

 

功能特色

  • 扫描预览,实时跟踪标志点

  • 针对不同幅面的标定板,灵活的相机标定

  • 扫描结果三维显示,灵活的三维显示控制

  • 坐标转换功能

  • 具备光学探针功能

  • 321坐标转换功能

  • 具备点距测量功能

  • 具备多种后处理功能,包括点云精确匹配、重叠面自动融合等

  • 具备多种元素拟合功能:点、线、面、球、圆柱、圆锥等

  • 具备多种偏差分析功能:点偏差、距离偏差、角度偏差等

 

 

 

 


规格型号


 

 
产品型号

TOPSCAN-TC

单目型

TOPSCAN-MIC

教育型

TOPSCAN-EDU

教育四目

TOPSCAN-ET

工业型

相机像素

1×1300000 ~2000000 2×1300000 ~2000000 4×1300000~2000000 2×1300000 ~4000000
扫描范围
128×96mm
400×300mm
32×24mm
64×48mm
128×96mm
128×96mm
400×300mm
128×96mm
400×300mm
800×600mm
测量精度 0.02 ~0.04mm 0.008~0.015mm 0.03~0.05mm 0.015~0.03mm
采样点距 0.15 mm~0.3mm 0.08~0.15mm 0.12~0.25mm 0.10~0.25mm
扫描方式 非接触式扫描
输出格式 ASC,STL、PLY
扫描时间 3~5S
拼接方式 标志点全自动拼接,手动选点拼接
 
 

公司联系方式
  • 苏州西博三维科技有限公司 [加为商友]
  • 联系人余树锋(先生) 销售工程师 
  • 地区江苏-苏州市
  • 地址工业园区仁爱路99号B6幢
  •   
同类产品

[ 供应搜索 ]  [ ]  [ 告诉好友 ]  [ 打印本文 ]  [ 关闭窗口 ]  [ 返回顶部 ]

中国测控网郑重提醒:网上过低的价格有可能是虛假价格信息,请买家谨慎对待,谨防价格欺诈行为。投诉或价格欺诈行为,请发送邮件至 [email protected]