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Thermal probe system热扫描探针系统，联用AFM显微镜，既能实现AFM探针常规轻敲和接触扫描，获得高清晰度的图像，同时能够实现样品热学性质的探测。尤其适用于高分子材料组分热学性质评估。
模块性能：
可以同时实现样品表面形貌扫描和材料相关热学性能测试
1） 温度；
2） 温度梯度变化曲线；
3） 定性热导率；
4） 相变温度；
5） 定性热容量；
模块优势：
1）高性价比，能实现热学扫描及热学性质测试的功能，价格仅为其为同类产品的一半；
2）精细测量，能达到20nm区域测温；
3）耐高温，针尖在700℃高温下也不易变形；
模块扫描机制：
公司联系方式
- 上海纳腾仪器有限公司 [加为商友]
- 联系人王晟(女士)
- 地区上海
- 地址上海宛平南路909弄14号
