粗糙度、轮廓、形状特徵及结构和更多

Perthometer Concept粗糙度、轮廓、形状特徵及结构和更多 Perthometer Concept是一个模块化的计算机控制测量站，主要为测量和分析粗糙度、轮廓和表面形貌特徵。 特点： 可扩展的系统，建立一个完整的工作站。包括，粗糙度测量、轮廓测量和表面形状特徵及结构的测量可接驳机械式和非接触型测头在测量中能即时显示外形和轮廓，准许有即时视觉评估能及时观察评估测量站部份的功能表示驱动图示Perthometer Concept在Windows 下运作自订工具列，度身订造的可配制工具条， 使系统真正满足用户需要能自动进行测量和评估高记忆容量使测量程序能储存在硬碟或软碟中所有通用的参数都按照DIN EN ISO的标准, 包括Motif的方法参数按照DIN EN ISO 13565:Rk,Rpk,Rvvk,… 高斯滤波器，RC滤波器和特别滤波器曲线和外形轮廓种类所有常用的特性可用口令保护测量程序 公差监视统计、统计表、直方图、原始表自由设计全彩色测量记录测头标定功能通用于最新驱动单元，PGK 20 / PGK 120 加上自动测头升降和零点设定来加快调较的时间多种评估的方法，带有表面形状特徵(托普)套装软体标准A4格式硬拷贝，令文件方便及快捷地处理和存放语言选择：英文、德文、法文；其他语言也可要求轮廓和外形测量用PCV驱动单元用PMB测量装置能检查气缸内部表面。