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供应CMI900型X-射线荧光测量仪

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公司: 上海凯悦电子科技有限公司 
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有效期至: 长期有效
最后更新: 2010-10-06
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产品详细说明

CMI 900型 X-射线膜厚测量仪

   CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域,为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包,实现了对CMI900主机的全面自动化控制,分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定最多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析报告格式要求;如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、最大值、最小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

    CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品;并且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。

    CMI900系列采用开槽式样品室,以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用,分别为: 

    标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

    扩展型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

    可调高度型标准样品台:XY轴手动控制、Z轴自动控制。

    程控样品台:XYZ轴自动控制。

    超宽程控样品台:XYZ轴自动控制。v


公司联系方式
  • 上海凯悦电子科技有限公司 [加为商友]
  • 联系人胡静(女士) 市场销售 
  • 地区上海
  • 地址闵行区莘浜路85弄1号1401室
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