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4155B半导体参数分析仪的简单介绍:
Agilent/HP 4155B
Agilent/HP 4155B - 半导体参数分析仪
欲购买或租赁Agilent/HP 4155B？请在线咨询或拔打电话：0755-83777077
4155B半导体参数分析仪的详细资料
说明
HP 4155B Semiconductor Parameter Analyzer Description 惠普4155B半导体参数分析仪描述
The 4155B Semiconductor Parameter Analyzer is a stand-alone instrument capable of complete dc characterization of semiconductor devices and materials. 该4155B半导体参数分析仪是一个独立的仪器能够完成直流特性半导体设备和材料。 It stimulates voltage and current sensitive devices, measures the resulting current and voltage response, and displays the results in a user-selectable format (graph, list, matrix or schmoo) on a built-in CRT display. 它刺激电压和电流敏感的设备，措施，由此产生的电压和电流的反应，将结果显示在一个用户可选择的格式（图，表，矩阵或schmoo ）在内置的CRT显示器。
Features 特征
High-resolution/accuracy and wide range. High-resolution/accuracy和广泛。
1 fA to 1 A 1款发到1
1µV to 200 V 1μV 〜 200 V
Fully-automated IV sweep measurements with dc or pulse mode, expandable up to 6 SMUs全自动四扫描测量直流或脉冲模式，可扩充至6 SMUs
Synchronized stress/measure function, two high-voltage pulse generator units (±40 V)同步应力/测量功能，两个高电压脉冲发生器的单位（ ± 40五）
Time-domain measurement: 60µs–variable intervals, up to 10,001 points时域测量： 60μs变间隔，最多10001点
Easy to use: knob-sweep similar to curve tracer, automatic analysis functions易于使用：旋钮扫描类似的曲线示踪剂，自动分析功能
Built-in HP Instrument BASIC, trigger I/O capability内置惠普仪器基础，触发I / O性能
Agilent/HP 4155B
Agilent/HP 4155B - 半导体参数分析仪
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4155B半导体参数分析仪的详细资料
说明
HP 4155B Semiconductor Parameter Analyzer Description 惠普4155B半导体参数分析仪描述
The 4155B Semiconductor Parameter Analyzer is a stand-alone instrument capable of complete dc characterization of semiconductor devices and materials. 该4155B半导体参数分析仪是一个独立的仪器能够完成直流特性半导体设备和材料。 It stimulates voltage and current sensitive devices, measures the resulting current and voltage response, and displays the results in a user-selectable format (graph, list, matrix or schmoo) on a built-in CRT display. 它刺激电压和电流敏感的设备，措施，由此产生的电压和电流的反应，将结果显示在一个用户可选择的格式（图，表，矩阵或schmoo ）在内置的CRT显示器。
Features 特征
High-resolution/accuracy and wide range. High-resolution/accuracy和广泛。
1 fA to 1 A 1款发到1
1µV to 200 V 1μV 〜 200 V
Fully-automated IV sweep measurements with dc or pulse mode, expandable up to 6 SMUs全自动四扫描测量直流或脉冲模式，可扩充至6 SMUs
Synchronized stress/measure function, two high-voltage pulse generator units (±40 V)同步应力/测量功能，两个高电压脉冲发生器的单位（ ± 40五）
Time-domain measurement: 60µs–variable intervals, up to 10,001 points时域测量： 60μs变间隔，最多10001点
Easy to use: knob-sweep similar to curve tracer, automatic analysis functions易于使用：旋钮扫描类似的曲线示踪剂，自动分析功能
Built-in HP Instrument BASIC, trigger I/O capability内置惠普仪器基础，触发I / O性能
公司联系方式
- 深圳市太极光科技有限公司 [加为商友]
- 联系人杨小姐(女士) 市场销售
- 地区广东-深圳市
- 地址福田区华强北路深纺大厦B座16楼南
