比表面积孔结构测试仪

比表面积孔结构测试仪产品性能参数

比表面积孔结构测试仪测试方法及功能:氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,样品真密度测定,t－plot图法外比表面积测定;

比表面积孔结构测试仪测试模式:V-Sorb独创的集成“单一氮气测试模式”和“氮气+氦气标准测试模式”于一体,供客户根据实际需要选择使用;采用“氮气+氦气标准测试模式”,符合国际标准,可确保结果的准确性和一致性,且操作简单;对于低温下可吸附氦气的样品,不适宜采用氦气测定自由空间,可通过采用“单一氮气测试模式”获得理想的测试结果.

比表面积孔结构测试仪测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积);

比表面积孔结构测试仪测量精度:重复性误差小于1.5%;

比表面积孔结构测试仪真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高比表面积测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命;

比表面积孔结构测试仪液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;

比表面积孔结构测试仪控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命;

比表面积孔结构测试仪样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理;

比表面积孔结构测试仪压力测量:采用压力分段测量的进口双压力传感器,显著提高低 P/Po点下测试精度,0-1000Torr(0-133Kpa),0-10Torr(0-1.33Kpa)(可选)

比表面积孔结构测试仪压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15％,优于全量程的0.15％,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15％);

比表面积孔结构测试仪真空泵:真空泵内置仪器中,且通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停,从而延长真空泵的寿命.

比表面积孔结构测试仪分压范围:P/Po 准确可控范围达5x10－6－0.995;

比表面积孔结构测试仪极限真空:4x10－2Pa(3x10－4Torr);

比表面积孔结构测试仪样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等;

比表面积孔结构测试仪测试气体:高纯N2气(99.999%)或其它(按需选择如Ar,Kr)

比表面积孔结构测试仪标定气体:具备可选择使用He气(99.999%)进行冷自由空间体积标定的功能,不能仅仅只具备采用"氮气+空管"模式标定冷自由空间

比表面积孔结构测试仪数据采集:高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;

比表面积孔结构测试仪数据处理:Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表.

F-Sorb X400系列比表面积孔结构测试仪是北京金埃谱科技公司与兵器系统研究机构合作研发的新一代产品，可完全实现测试过程的自动化和智能化，显著提高测试效率，大大降低比表面积测试人员工作量。采用快捷高效的连续流动法氮吸附测量原理，可进行BET法比表面积和直接对比法比表面积分析测试，广泛适用于粉体颗粒材料的比表面积及孔径（孔隙度）分析测试及生产质量监测。相比国内外同类产品，多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善，测试结果的准确性和一致性进一步提高，测试过程的稳定性更好。我们的产品设计基于兵器系统高可靠性要求，通过采用合资或进口零配件，大大提高了产品可靠性和使用寿命。为适应产品民用化发展战略，多项改进措施更多从用户使用的角度出发，使F-Sorb X400系列比表面积孔结构测试仪产品具备了完全的自动化操作，大大减轻了测试人员的工作量；整体设计上的完善和严格的产品制造和检测工序，确保产品更加符合用户实际需求，同时F-Sorb X400系列比表面积孔结构测试仪产品的高性价比有效保障了用户的投资利益，灵活的产品配置可满足不同用户的不同需求。可广泛适用于粉体颗粒类材料的比表面积及孔径（孔隙度）分析测试及生产质量监测。