JW-BK222型分子筛比表面

JW-BK222型分子筛比表面
精微高博是分子筛比表面最具权威的厂商,精微高博分子筛比表面一并荣获中国计量院测试证书,ISO9001认证及CE认证并且还有独家的专利产品是通过国家级高新技术企业
精微高博比表面仪具有两个独立分析站，两个样品同时测试，效率提高一倍，控制和测试精度达国际先进水平

JW-BK222型分子筛比表面功能
比表面测定：    BET(单点、多点)比表面，Langmuir比表面，外表面测定；
BJH孔径分布测定：    总孔体积、平均孔径、孔容/孔径的微分与积分分布；
微孔常规分析：    微孔总孔体积、总内表面积(t-图、D&R、MP等)
真密度测定

JW-BK222型分子筛比表面技术参数
分子筛比表面原理方法：  低温氮吸附，静态容量法
分子筛比表面吸附气体：  高纯氮气，也可用氪、氦、二氧化碳等其他气体
分子筛比表面极限真空：  4 - 6.7×10-2Pa (3- 5×10-4   Torr)
分子筛比表面氮气分压：  4×10-5 – 0.995
分子筛比表面控制精度：  测试压力点控制最小间隔可小于0.1 KPa (0.75  Torr)
分子筛比表面测试范围：  比表面  ≥ 0.01 M2/g，无规定上限
                           孔径  0.35 - 400 nm
分子筛比表面测试精度：  ≤±2%
分子筛比表面测试效率：  双工作站，测试效率提高一倍，多点BET比表面测定，每样平均15min
                          孔径分析两个样品同时测试，效率也提高一倍
分子筛比表面预 处 理：  两个样品同位处理，温度50-400℃，±1℃
分子筛比表面专用软件：  BET(单点、多点)、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R等

真密度测试：重复性精度0.02%

JW-BK222型分子筛比表面特色
    ◎  比表面仪具有双工作站，测试效率提高一倍，多点BET比表面测定，每样平均15min
    ◎  比表面仪具有国内唯一通过国家级技术鉴定的产品，控制和测试精度达到国际先进水平；
    ◎  比表面仪具有独有的抽气与充气速度精密控制技术，超微粉样品也不会被抽飞；
    ◎  比表面仪具有独特的多途径液氮面控制与校正技术，连续测试10小时也不需添加液氮；
    ◎  比表面仪具有完善的标准等温线数据库和规范的分析方法，微孔常规测试技术国内领先；
    ◎  比表面仪具有专用软件功能齐全、界面友好、操作方便、实时显示样品的吸、脱附压力变化及平衡过程；
    ◎  比表面仪具有实验全程自动化、智能化控制，长时间运行完全可以无人职守。