供应SunScan 冠层分析系统

SunScan 冠层分析系统

用途：

通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。

原理：

根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。

组成：

SS1探头：一支1米长，内嵌64个光合有效辐射传感器

SunData软件：用来对测量参数进行分析处理

BF3传感器：可计算出作物冠层的PAR以及直射光与漫射光的比例关系。减少太阳变化对测量造成的影响。

三角架：用来安放BF3

数据采集终端：采集和分析读数。

参数：

探测器工作区域：1000×13mm宽，传感器间距15.6mm

探测器光谱响应：400 ~ 700nm (PAR)；

探测器测量时间：120ms；

探测器分辨率：0.3μmol. m^-2.s^-1；

探测器最大读数：2500μmol.m^-2.s^-1

操作温度：0 ~ 60℃；

内存：2M内存，包含程序；1600K RAM 可用于储存数据；

 产地： 英国