多路绝缘电阻测试系统

二、系统概述：
表面绝缘电阻(SIR)测试系统立足于实现多通道的表面绝缘电阻自动化测
试，通过多通道连续测定，高精度地测出绝缘电阻和电流的变化。并提供丰
富的测试功能，目的是实现对多通道表面绝缘电阻自动测试，能够高精度、高效
率地连续进行测试和评估，实现环境试验与测试、评估的融合；最终达到节约成
本、缩短测试时间、提高测试精度的目的。
评估对象
·印刷电路板
·绝缘材料
·半导体材料
主要用途
·助焊剂、印刷电路板、光刻胶、焊料、树脂、导电粘性剂等用于印刷电路板及
高密度封装的材料
·BGA、DSP等精细线距IC封装
·连接器以及其它电子部件和材料
·各种绝缘材料的吸湿特性评估

测试范围107 - 10112Ω（测试条件：温度25%，
相对湿度30%RH，测试电压100VDC，
屏蔽措施：良好）
测试精度107 - 1011 Ω≤10%
1012 Ω≤30 %
（温度25%，湿度30%，测试电压100V）