元素分析仪|X荧光镀层测厚|镀层测厚仪 正业电子

元素分析仪|X荧光镀层测厚|镀层测厚仪为牛津推出的用来测试元素的含量或镀层的厚度的电子测厚仪。
膜厚仪X-Strata980或镀层测厚仪CMI980采用X射线荧光无损检测的一种方式，精确地检测出多层镀层厚度（镀液、镀锡、镀银等）
X荧光镀层测厚仪及痕量元素分析仪X-Strata980用途：
   X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪用来测试元素的含量或镀层的厚度，可分析的元素范围众原子序数16位（S）至92位（U）;进行元素成分分析时，仪器可同步分析25种不同元素的含量。可同时分析5种镀层（基材及4种镀层）/15种元素/含常规元素的修正功能。由ISO3497 ASTM B568和DIN 50987所认证的进行镀层厚度测试的方法。
 
X荧光镀层测厚仪及痕量元素分析仪X-Strata980特征：
1、专业设计的RoHS分析界面，检测结果一目了然。
2、强大的数据传输功能（选件）
3、扫描分析及映 射成像功能（选件）
4、程控台（选 件）
5、可变聚焦距离
6、超大样品仓
7、PC与机品的一体化设计
8、电制冷PIN探测器，提高测量分辨率
9、行业领先的100瓦X射线管
10、5个初级滤 波器，提升信噪比，改善激发效率。
11、多准直器配置，满足不同大小PAD位测量。
12、AITi样品底座，大幅降低背景噪音，提高RoHS元素的检测下限。
13、方便易用的经验系数法校准软件
14、改进的基本参数法模型。
15、提供经验系数及基本参数的组合分析模型。
16、用户操作界 面包含9种语言，使用方便。