太阳能电池光谱分析仪

美国solar Metrology 太阳能薄膜电池CIS, CIGS, CIGSSe ａnd CdTe厚度测量仪

产品特色∶ 1. 全球唯一能提供NIST等级的标准样品，与美国NREL共同合作。 2. 超大样品室，H:56cmXW;54cmXD74cm 3. 可直接储存及建立各种镀层的Protocol参数，可设定多点分析，以确定制程品
质。 4. 针对CIGS各种镀层材质的滤光片，共5种 5. X-Y-Z三轴自动定位，轴承最长距离为8”X8”X6”，并有自动聚焦弁?/div> 6. 具有表面相对等距自动调整系统 7. 采用自然光，LED白光，无色差 8. 采用最新高科技的高灵敏度的电子式冷却侦测器 9. 具有防撞安全装置 10. 具有操作时辐射安全装置

11. 可将实验室建立的数据直接复制至线上检测机台上。

基本规格：

X射线发生部	电压	最大50kV，多段电压切换
	电流	4-1000μA，可做自动调整设定
	准直器	共五个
	侦测器	Pin or Si
检测器	冷却方式	电子冷却
	五种滤波器自动切换
电源	AC110~240V, 50/60 Hz

应用领域：

镀层厚度分析

（1）分析CIGS各镀层的厚度及成份同时测量。 （2）分析CdTe之各镀层的厚度及成份同时测量。 （3）三、五族元素各镀层的成分比例及厚度分析。

其他型号：

薄膜太陽能檢測設備：
應用於薄膜太陽能電池CIGS及CdTe與III及V族厚度及成份分析。

● 桌上型成份及厚度分析儀SMX-BEN:全球唯一能提供NIST標準樣品，快速（60秒內）非破壞檢測。
● 生產製程專用模組 SMX-FPV: 適合於設備商turn-key使用，直接OEM與生產製程端整合。
● 即時監測設備（In-Situ） SMX-ISI: 適用於roll to roll、真空與非真空製程腔體內檢測，可耐高溫至 300°C。
● 產線自動檢測系統（In-Line） SMX-ILH:適用於各種製程產線上不同檢測點上，可依現場Layout 做不同方式進樣。

（联系电话13701600767）