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芯片失效分析仪

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公司: 孚利茨科技有限公司 
型 号: 孚利茨 
单 价: 面议 询价 
最小起订量:    
供货总量: 23
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2013-03-24
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产品详细说明


这套芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析专门为微电子研发和制造而设计,包括了一些非常重要的硬件,这些硬件对于分析和诊断半导体器件非常有用:探测热点和缺陷 电子元件和电路板故障诊断 测量结温 甄别芯片键合缺陷
详情浏览:http://www.felleschina.com/product-171.html

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这套芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析能够测量半导体器件的表面温度分布并显示温度分布,提供了一种快速探测热点和热梯度的有效手段,而热点和热梯度也能显示出缺陷的位置,这些位置很容易导致效率降低和早期的失效。
芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析可以有效地检测微尺度半导体电路的热问题和MEMS器件的热问题。

MEMS研发空间温度分布和热响应时间这两个参数对于微反应器,微型热交换器,微驱动器,微传感器之类的MEMS器件非常重要。到目前为止,还有非接触式的办法测量MEMS器件的温度,芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析能够给出20微米空间分辨率的热分布图像,是迄今为止测量MEMS器件热分布的有力工具。

这套芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析包括了一些非常重要的硬件,这些硬件对于分析和诊断半导体器件非常有用。
光学载物台:坚固而耐用,具有隔离振动的功能;
聚焦位移台:用于相机的精密聚焦和定位;
X-Y位移台:用于快速而精密地把测量区域定位到相机的视场中;
热控制台:  具有加热和制冷功能,用于精密器件的温度控制;


  应用  
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析半导体IC裸芯片热检测
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析探测集成电路的热点(hotspots)和短路故障
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析探测并找到元件和电路板上缺陷
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析测量半导体结点温度(结温)
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析辨别固晶/焊线/点胶缺陷
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析测量封装热阻 
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析确立热设计规则
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析激光二极管性能和失效分析*MEMS热成像分析
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析光纤光学热成像检测
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析半导体气体传感器的热分析
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析测量微交换器的热传输效率
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析微反应器的热成像测量
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析微激励器的温度测量
*芯片失效分析仪,芯片热阻测试,芯片热分析生物标本温度分析
*材料的热性能检测
*热流体分析
公司联系方式
  • 孚利茨科技有限公司 [加为商友]
  • 联系人张先生(先生) 工程师 
  • 地区北京
  • 地址南京路津汇广场
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