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深圳凯智通——POP结构手机芯片测试治具
产品特点：
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采用合金旋转测试座头，压力可调，受压平稳，保证IC受力均匀，测试时不偏移；
探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层，接触性能稳定，保护锡球外形；
理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位精确；
特殊IC载板结构，保护探针不受外力损坏；
探针：采用进口探针，铍铜镀硬金、铑，测试稳定，使用寿命长，达到6-8万次；
维修方便：采用扎针结构，方便更换探针，成本低，效率高；
成熟的加工精度范围：最小pitch=0.4mm；
测试频率最高可达9.3GHz；
高强度耐高温绝缘材料：330度；
用途：集成电路应用功能验证测试；
可以根据用户不同类型PCBA产品定制各种芯片测试治具；
应用范围：
适用于各类手机芯片测试：3G手机测试架MTK手机测试架、高通手机测试架、苹果手机
测试架。
欢迎来厂参观指导工作!
联系人：萧敏18938976411 QQ：1939177646
TEL：86-755-29501178, 27340893
FAX：86-755-27340798
网址： http://www.icsocket.net
邮箱：kzt6411@icsocket.net
工厂地址：深圳市宝安区福永镇凤凰稔田社区稔田工业区14栋
公司联系方式
- 深圳凯智通微电子技术有限公司 [加为商友]
- 联系人朱冬春(先生) 市场销售
- 地区广东-深圳市
- 地址深圳市宝安区西乡镇固戍下围园新联三工业区A栋
