分立器件时间参数测试系统

BC3193TM 分立器件时间参数测试系统

系统用途

BC3193TM 分立器件时间参数测试系统用于半导体二极管、三极管、MOS管、光耦等器件的开关时间参数测试。可用于各类整机厂家、科研院所的质量检测部门进行入厂检验、可靠性分析。

系统特点

◆  PC机为系统的主控机            

◆  菜单式测试程序编辑软件操作简便

◆  正负脉冲激励源

◆  美国Lecroy 400M存储示波器用于时间测量，最   小时间测量分辨率200pS

◆  通过IEEE488接口连接校准数字表传递国家   计量标准对系统进行校验

◆  系统终身技术支持

测试参数

开启时间Ton；关断时间Toff；延迟时间Td；存储时间Ts；上升时间Tr；下降时间Tf等参数。

脉冲发生器

脉冲幅度：±5Vpp～±20Vpp (可编程)

脉冲边沿：≤5nS （由0到正或负）

脉冲宽度：1μS～1mS (可编程)

 占空比：0.1%～10% (可编程)

时间测量（同示波器指标）

最高频率：400MHz

触发灵敏度：2mV/div

最小时间测量分辨率：200pS

测试系统硬件基本配置

联想计算机一台：Windows操作系统、PCI插槽1个以上；

计算机接口板(CPUINT)一块；

系统接口板(SYSINT)一块含GPIB接口；

数据采集板(VM)一块：16位ADC，16X256 RAM；

30V/20A程控电压/电流源(VIS)一块；

30V/2A程控电压/电流源(VIS)一块；

脉冲发生器电压源一块；

高速可编程脉冲发生器一块；

美国Lecroy 400M存贮示波器一台；

电源控制板(PWC)一块；

自检模板一个；

测试适配器：根据用户需要配置