X射线断层扫描复合式坐标机测量中心

设备特点

●   全球首家将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现复杂部件高精度内外尺寸全面测量

●   可选配第二个Z轴，配置其他传感器（光学，探针，光纤，激光等）

●   Werth公司专利技术的复合式传感器技术，进一步保证CT测量数据更准确

●   坚固的花岗岩基座，保证机器具有高稳定性

●   高精密机械轴承技术及线性导轨系统，确保实现最高精度的测量

●   无论从设计还是结构，测量机完全满足并超出X射线使用安全标准

●   基于Werth公司优异的图形处理及3D重建技术，测量速度更快

●   Werth公司专利技术的X射线传感器独立校准系统

●   Werth公司专利技术的栅格断层扫描技术：

-       精密测量微小部件

-       扫描更大尺寸工件，提高分辨率

-       扩展测量范围

●   测量软件可快速3D重构，也可进行2D测量

●   测量工件内部尺寸的同时，也可实现材质缺陷分析

●   选用全球广泛应用的WinWerth软件(德国国家计量院PTB长度标准认证) ，界面友好，操作简单

●   可使用最佳拟合Bestfit及公差拟合Tolerancefit软件进行轮廓匹配分析及三维CAD工件公差比对

●   广泛应用于复杂尺寸测量，首件评估，逆向工程，高质量控制等

技术规格

◎ 测量范围：L=300mm

            D=350mm

◎ 最大承重：40kg (高精度转台)

◎ 分辨率：0.0001mm

◎ 测量机最大允许误差：

      E1: (2.5+L/120)μm

E2: (2.9+L/100)μm

E3: (4.5+L/75)μm

◎ X射线系统测量误差

      MPE: (4.5+L/75)μm

(环境温度20±1℃ 、温度变动量0.5℃/h, 遵照标准：ISO 10360和VDI/VDE 2617)

◎ X射线源能量：max 450kV

◎ 探测器分辨率：1000X1000pixel@200X200mm

◎ 电    源：220V/50Hz/2500VA

◎ 气    源：7–10 bar，9000 Nl/h

◎ 使用温度：10–35 °C，40-70%（湿度）

◎ 外形尺寸：3750×1680×1960mm

◎ 仪器重量：≈9000Kg