微量分析天平XS64

微量分析天平XS64 技术参数

 

 

可读性	0.1mg
最大称量值	61g
最大称量值重复性(s)	0.1mg
10g重复性(s)	0.07mg
线性	±0.2mg
1/2最大称量1）四角误差	0.3mg
灵敏度漂移	0.0004%
灵敏度温度漂移2）	0.00015%/℃
灵敏度稳定性3）	0.0002%/a
典型称量时间4）	4s
接口更新速率	23/s
防风罩有效高度(mm)	235
秤盘尺寸(mm)	78×73
天平外形尺寸(W×D×H)(mm)	263×453×322

 

梅特勒-托利多 XS64微量分析天平 功能特点

采用高精度、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果 XS64分析天平 全自动校准技术（FACT） - 温度漂移触发的天平自动内校，内置两组砝码实现线性误差校准，确保称量结果的准确性 变量程专利设计（DeltaRange）和双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求 革命性的网格称量盘（SmartGrid）、悬浮在称量室中的后挂称量设计，获得快速、稳定的称量结果 易巧称量组件（ErgoClips），方便客户使用不同去皮容器进行称量 触摸屏技术（Touch screen），方便天平称量菜单和参数设置 可移动的显示控制终端，方便天平使用 完全可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁 内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求 具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序 e-Loader II软件，实现更便捷的天平软件更新

   XS64电子天平展示世界领先的称量性能、无与伦比的符合人体工学的操作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求，确保更高的生产效率并使操作更安全。