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X射线荧光光谱仪

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公司: 亚泰斯仪器(中国)有限公司 
型 号: YTB-A039 
单 价: 面议 询价 
最小起订量:    
供货总量: 10
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2013-03-12
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产品详细说明

YTB-A039   X射线荧光光谱仪

产品特点:

高分辨率探测器美国原装电制冷Si-PIN探测器,配套原装数字式多道脉冲幅度分析器,检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法(模拟)多道分析器精准和快速。

精密稳定的高压电源采用工业级专用X射线荧光分析的精密高压电源,为X射线光管提供长时间的稳定高压。

低功率X射线光管:采用W/Rh靶X射线管,静音高速风扇制冷,设计寿命5万小时。

高像素摄像头:内置高清摄像头以及微动样品移动装置,方便对样品扫描区域的实时准确定位和观察。

全方位的X射线防护体系:采用电源开关锁、精密样品盖开合检测等安全装置全方位防止X射线的泄漏,确保操作人员的安全。

超安全样品腔:精密科学计算仪器外壳厚度,选择重量与安全最佳平衡点,既保证仪器使用的安全,也有效减轻仪器重量。

采用新型滤光片:有效的降低X射线荧光本底,提高检测灵敏度。独特光学准直器,光束最小直径达0.025mm,集中X射线光束,增强荧光强度,提高对微量元素的检测以及超薄镀层的分析。

先进的光谱分析方法:紧跟国际最前沿的X射线光谱分析方法,科学的对光谱进行元素定性、定量分析。由于采用了先进复杂的计算、校正算法,最大程度上减少了定量分析需要的标样,这在同行中处于领先地位。通过改进硬件,Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。

无标样分析:真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析,高含量元素相对误差范围可控制在1%以内;对于镀层分析,厚度相对误差范围可控制在10%以内。

**镀层厚度分析:选用专用的功能模块实现对镀层厚度的分析,使用户无需添加额外硬件即可进行镀层厚度分析。

 

 

技术指标

基本参数

探 测 器

145eV FWHM @ 5.9keV

外型尺寸

650 X 520 X 475 mm

稳 定 度

小于 0.05%

样品腔

18 X 490 X 320 mm

测量对象

固体、液体、粉末

输入电压

AC 220V /50HZ

测量时间

60-300s

功 耗

260W

元素范围

硫(S)-铀(U)

重 量

48Kg

检测下限

2ppm

工作温度

20-30℃

含量范围

2ppm-99.99%

工作湿度

40-70%

X光管压

1-50KV

X光管流

1-1000 A

**测镀层

0-40 m


公司联系方式
  • 亚泰斯仪器(中国)有限公司
  • 联系人吴先生      未注册
  • 邮件
  • 电话
  • 手机24H服务电话:13860743725
  • 地区福建 泉州市
  • 地址福建省泉州市清蒙技术开发区
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