BMH-J3薄膜测厚仪（三泉中石 盛永芳）

BMH-J3薄膜测厚仪（三泉中石 盛永芳）

仪器别名: 数显薄膜测厚仪,薄膜测厚仪,数显测厚仪,测厚仪,厚度仪,薄膜厚度测定仪,厚度测定仪,数字厚度仪,厚度测试仪,厚度试验仪

产品用途：主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特数显薄膜点。

技术指标：

1.测量范围：（0-25）mm

2.分辨率：0.001mm

3.电源：氧化银电池SR44

4.工作温度：0℃～+40℃

5.储运温度：-20～+70℃

6.相对湿度：≤80%

本条信息由济南三泉中石实验仪器有限公司 盛永芳提供 0531—67810188 QQ:49980229