粗糙度仪

泰勒DUO粗糙度仪SURTRONIC DUO是英国泰勒公司新型粗糙度仪，可测量Ra，Rz两种参数。 DUO具有的红外接口可在距离被测物1米处进行测量 泰勒DUO便携式粗糙度测量仪的技术参数： 测量范围 200um 误差 0.8mm ±15% 分辨 Ra=0.01 um Rz=0.1 um 精度 Ra:±5%读数或±0.1um Rz ±5%读数或±um 针尖 金钢石，半径5um 显示单位 um 参数 DRa0.1um ～ 400um Rz 0.1um ～ 199um 滤波器 ISO 2CR 尺寸 125×80×38mm 重量 200g