X射线荧光测厚仪

CMI900/950系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。CMI900/950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；幷且测量点最小可达0.025 x 0.051毫米。