| SFT9500 高性能X射线荧光镀层厚度测量仪 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 产品副名称:采用X射线聚光系统,适用于微小样品的镀层厚度测量及RoHS分析 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 产品型号:SFT9500 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 产品特点: | ||||||||||||||||||||||||||||||||||
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★ X射线发生系统采用了聚光导管 ★ 无需液氮的半导体检测器 ★ 能谱匹配软件(选配件) ★ 块体检量线软件(适用于电镀液分析) (选配件) ★ 绘图软件(选配件) ★ 电镀液容器(选配件) ★ 各种标准物质(选配件) | ||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 产品介绍: | ||||||||||||||||||||||||||||||||||
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SFT9500的X射线发生系统是X射线聚光系统(聚光导管)与X射线源相结合,产生束斑直径为Φ0.1mm以下高强度的X射线束。 所以SFT9500可以对以往由于X射线照射强度不足而导致无法得到理想精度的导线架、接插头、柔性线路板等微小零件及薄膜进行测量。 同时,SFT9500采用了高计数率、高分辨率的半导体检测器(无需液氮),在测量镀膜厚度的同时,对于欧盟的RoHS&ELV法规所限制的有害元素的分析测量也十分有效。
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