名称:◎型号:PTR-1000/5000/30 STR-1000◎价格:面议
本测试仪是为了测试包括半导体在内的所有微小接合部分的可靠性,而开发的接合强度测试仪。 1,推断测试(专利号码682513)能够沿基板面进行完全的推断试验。 2,BGA、CSP接断测试:在常温和不改变界面状态下,对焊锡球等进行拉断试验。 3,基板面可在最大45°倾斜的情况下进行拉断试验。 4,特点: ●测试工作台移动范围大,测试样品1次安装后,可完成整个试验。 ●操作简单,试验位置确定后,只需1次设定,便可数次循环测试。 ●试验结果的再现性好。 ●配有丰富的测试夹具。 ●与电脑连接后,自动进入测试状态。以上各测试方式,根据需要可任意选择。
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